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Apr 26, 2023

La solución de protección de circuitos hace que el desarrollo de vehículos eléctricos sea más seguro

Spencer barbilla | 11 de mayo de 2023 Ingenieros que diseñan sistemas eléctricos de alto voltaje

Spencer barbilla | 11 de mayo de 2023

Los ingenieros que diseñan subsistemas eléctricos de alto voltaje en vehículos eléctricos y vehículos eléctricos híbridos requieren un mecanismo para proteger la distribución y las cargas de alto voltaje en caso de una condición de sobrecarga. Para proporcionar una solución de protección de circuitos de alto voltaje más rápida y confiable, Microchip Technology ha anunciado elPlaca de demostración E-Fuse, disponible en seis variantes para sistemas de batería de 400 a 800 V y con una corriente nominal de hasta 30 amperios.

Debido a su diseño de estado sólido de alto voltaje, el demostrador E-Fuse puede detectar e interrumpir corrientes de falla en microsegundos, de 100 a 500 veces más rápido que los enfoques mecánicos tradicionales. El rápido tiempo de respuesta reduce sustancialmente las corrientes máximas de cortocircuito de decenas de kiloamperios a cientos de amperios, evitando así que un evento de falla resulte en una falla grave.

Según Clayton Pillion, vicepresidente de la unidad comercial de carburo de silicio de Microchip, el diseño de estado sólido del fusible E también alivia las preocupaciones de confiabilidad a largo plazo sobre los dispositivos electromecánicos para la protección de circuitos, ya que no hay degradación por choque mecánico, arco o contacto. rebotar.

Con la función de reinicio del demostrador E-Fuse, los diseñadores pueden empaquetar fácilmente un E-Fuse en el vehículo sin la carga de las restricciones de diseño para la capacidad de servicio. Esto reduce las complejidades del diseño y permite un embalaje flexible del vehículo para mejorar la distribución del sistema de energía BEV/HEV.

Los OEM pueden acelerar el desarrollo de aplicaciones auxiliares basadas en SiC con el demostrador E-Fuse gracias a la interfaz de comunicación de red de interconexión local (LIN) integrada. La interfaz LIN permite la configuración de las características de disparo por sobrecorriente sin necesidad de modificar los componentes de hardware, y también informa el estado de diagnóstico.

El demostrador E-Fuse aprovecha el rendimiento de la tecnología MOSFET SiC de Microchip y los periféricos independientes del núcleo (CIP) de los microcontroladores PIC® con una interfaz basada en LIN. Los componentes complementarios están calificados para automóviles y producen un menor número de piezas y una mayor confiabilidad en un diseño discreto.

Microchip es compatible con la placa de demostración E-Fuse conEntorno de desarrollo integrado (IDE) MPLAB® X para permitir a los clientes desarrollar o depurar software rápidamente. ElAnalizador serie LINLa herramienta de desarrollo permite a los clientes enviar y recibir fácilmente mensajes en serie desde una PC a la placa de demostración E-Fuse.

Spencer Chin es editor sénior de Design News y cubre el tema de la electrónica. Tiene muchos años de experiencia cubriendo desarrollos en componentes, semiconductores, subsistemas, energía y otras facetas de la electrónica desde una perspectiva comercial/cadena de suministro y tecnológica. Se le puede contactar en [email protected]

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